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        聯系人:周海波

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        基本信息

        • 需求名稱:
          二手電鏡 S-3400N 日立 電鏡 HITACHI SEM
        • 儀器種類:
          電鏡設備
        • 價格區間:
          50萬以上
        • 年限:
          5年以上
        • 儀器狀態:
          無故障正常運行
        • 儀器來源:
          企業
        • 需求描述:


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          規格參數: 

          1. 儀器的基本信息: 

          儀器名稱:掃描電子顯微鏡 

          英文名:Scanning Electron Microscope 

          型號:Hitachi S-3400N 

          產地:日本 

          購買時間:2013年 2月

          2.儀器的用途: Hitachi S—3400N型掃描電子顯微鏡,主要用于對材料的微觀形貌、組織和成分進行有效分析。

           3.儀器的性能指標: 

          1)分辨率 二次電子探頭:≤3.0 nm(在30kV,高真空模式),≤10 nm(在3 kV,高真空模式);被散射探頭:≤4.0 nm(在30kV,低真空模式)。

           2)加速電壓:0.3kV~30kV連續可調。 

          3)放大倍數:最低倍率5倍,最高倍率300,000倍。 

          4)真空系統 ①具有低真空功能,高低真空切換,不需要安裝壓差光闌; ②真空度:高真空不低于0.1 mPa;低真空(壓力范圍):10 Pa—270 Pa; 

          5)電子光學系統 ①電子槍:鎢燈絲,具有自動偏壓+4級偏壓功能; ②聚光鏡光闌完全安裝在長內襯管內,可自行更換聚光鏡光闌。

           6)樣品室和樣品臺 ①樣品臺尺寸:裝載直徑≥200 mm樣品; ②樣品臺(五軸樣品臺,2軸馬達驅動功能); ③ 行程:X=100 mm;Y=50 mm;Z=50 mm;R=3600;T=-20~+900;

           7)探測器及成像系統 ① 二次電子探測器:二次電子像;高靈敏5分割背散射電子探測器:成分像、形貌像和三維像; ②成像模式:同時得到二次電子像,背散射電子像,兩種圖像混合像;

           4.結果展示: 


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        2020-12-04 廣東省深圳市 來自:儀器無憂網
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